線性高低溫試驗(yàn)箱又稱高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、溫度老化試驗(yàn)箱、高低溫老化試驗(yàn)機(jī)、高低溫循環(huán)試驗(yàn)箱、溫度循環(huán)箱等，主要用于模擬電子儀器儀表、新型材料、電工、金屬、電子產(chǎn)品、航空航天材料等在運(yùn)輸、儲(chǔ)存、使用過程中可能會(huì)遇到的嚴(yán)酷高溫、低溫或濕熱環(huán)境；或高溫、低溫、濕熱交變環(huán)境下，檢驗(yàn)材料、配件或儀器設(shè)備耐高溫、耐寒、耐濕熱性能及可能造成的損壞壽命縮減等。

一、設(shè)備特點(diǎn)：

   1、供水系統(tǒng)：具可外接式供水系統(tǒng)，方便于補(bǔ)充加濕桶供水，并自動(dòng)回收使用；

   2、控制方式：采智能型PID+SSR/SCR正逆雙向同步輸出,內(nèi)含先進(jìn)之斜率控制邏輯；

   3、控制器：具有多段程序編輯及溫度、濕度可做快速或斜率控制；

   4、系統(tǒng)容量：可登入150組程序;1500段,段數(shù)可任意分割,程序可自由相互聯(lián)結(jié)；

   5、循環(huán)設(shè)定：可執(zhí)行9999×999回次數(shù)循環(huán),且可再切割出5組獨(dú)立之部份循環(huán)；

   6、安全檢知：15項(xiàng)全功能之系統(tǒng)偵測(cè),確保機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)安全.并可自動(dòng)顯示故障時(shí)間、項(xiàng)目及排除對(duì)策；

   7、時(shí)間訊號(hào)：3組時(shí)序控制輸出接口,搭配10種之時(shí)間控制模式,方便執(zhí)行外部驅(qū)動(dòng)組件啟/停之時(shí)序規(guī)畫；

   8、外觀：高質(zhì)感外觀，機(jī)體采用圓弧造型，表面經(jīng)霧面條紋處理，并采用平面無反作用把手，操作容易，安全可靠；

   9、壓縮機(jī)：壓縮機(jī)循環(huán)系統(tǒng)采用法國泰康牌，更能有效去除冷凝管與毛細(xì)管間的潤滑油并全系列，采用環(huán)保冷煤（R404，R23）；

   10、觀察窗：長方形復(fù)層玻璃觀窗口，可在試驗(yàn)中進(jìn)行試驗(yàn)品觀察使用，窗口具防汗電熱器裝置可防水氣凝結(jié)水滴，及高亮度PL瑩光燈保持箱內(nèi)照明。

二、制冷、加熱及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng):

   1、制冷系統(tǒng)：選用全封閉法國泰康壓縮機(jī)。采用風(fēng)冷單機(jī)壓縮/風(fēng)冷復(fù)疊壓縮制冷方式。

   2、加熱系統(tǒng)：全獨(dú)立系統(tǒng)，鎳鉻合金電加熱式加熱器。

   3、風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng):采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。

   4、電器控制系統(tǒng)：電器控制主件采用進(jìn)口“施耐德”及“梅日梅蘭”元件，更好的控制溫度。

   5、升溫、降溫、系統(tǒng)獨(dú)立可提高效率，降低測(cè)試成本，增長壽命，減低故障率。溫度控制輸出功率均由微電腦演算，以達(dá)高精度及高效率用電效益。

三、箱體結(jié)構(gòu)材料:

   1、高質(zhì)感外觀，表面經(jīng)霧面條紋處理，并采用平面把手, 操作容易，安全可靠；

   2、內(nèi)箱材質(zhì):SUS#304 耐熱耐寒不銹鋼板,經(jīng)鏡面處理；

   3、外箱材質(zhì):SUS#304不鋼鋼板；

   4、保溫材質(zhì):高強(qiáng)度防火PU發(fā)泡絕緣材料；

   5、防汗機(jī)件: 以系統(tǒng)Ｋ型管之熱能及薄膜式電熱線作為防汗處理；

   6、測(cè)試孔:機(jī)體左側(cè)50mm孔一只,塞頭一個(gè),供連接外加電源線或信號(hào)線。

四、滿足標(biāo)準(zhǔn)：

   1、GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

   2、GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

   3、GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

   4、GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備；

   5、GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法；

   6、GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法；

   7、GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則。

五、線性高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：